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原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,簡稱AFM)利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣
品原子之間的作用力,從而達到檢測的目的,具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導(dǎo)體,也可以
觀察非導(dǎo)體,從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于
一九八五年所發(fā)明的,其目的是為了使非導(dǎo)體也可以采用類似掃描探針顯微鏡(SPM)的觀測方法。原子力顯
微鏡(AFM)與掃描隧道顯微鏡(STM)最大的差別在于并非利用電子隧穿效應(yīng),而是檢測原子之間的接觸,
原子鍵合,范德瓦耳斯力或卡西米爾效應(yīng)等來呈現(xiàn)樣品的表面特性。
以下為原子力顯微鏡價格參考
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